从70年代后期，近场测量技术已走向适用化，据不完全统计世界已有五十多家研究机构相继建立了近场测量系统。
近场测量的局限性
频域近场测量四种取样方式的特点如表 7所示，从这个表格可以看出，部分应用研究方向仍是未来研究继续探讨的方向。回顾过去的前人所做的工作，可以看出未来研究工作应集中以下几个方向：
1.柱面、球面各项误差的分析.这方面虽有进展，但截止目前尚未见公开
报导。
2.低或超低副瓣天线的实时检测口径诊断虽然有了可喜的进展 [21-24]，但距
实用还相差较远。
3.目标散射特性的研究目前仅限于简单目标的特性实验研究 [17.20]，复杂目
标的实验研究尚处于探索时期，近场散射测量的探头型式还须进一步的探讨。
4.目标成像的研究虽刚刚起步 [25,26]，但应用前景非常广阔。
